一. 描写Description：
接纳范德堡丈量道理能处置样品因多少尺寸、边境效应、探针不等距和机器游移等内部身分对丈量成果的影响及偏差，供给通信接口，PC软件数据处置及数据阐发.中文或英文说话版本.
二.参照规范standard：
硅片电阻率丈量的规范（ASTM F84）及国度规范设想制作；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定体例》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
三.规模Applicable scope：
于出产企业、高档院校、科研部分，是查验和阐发半导体材料品质的东西；液晶显现，主动丈量和系数弥补，并带有温度弥补功效，主动转换量程；接纳AD芯片节制，恒流输出，选配：PC软件，保管和打印数据，天生报表
用于：笼盖膜;导电高份子膜，高、高温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏障)布、装潢膜、装潢纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其余半导体材料、薄膜材料方阻测试等相干产物

四.型号及参数Models and technical parameters

规格型modelFT-331
1.方块电阻规模Sheet resistance 10-5～2×105Ω/□
2.电阻率规模Resistivity 10-6～2×106Ω-cm
测试电流规模
Test current 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.电流精度 Current accura±0.1% 

5.电阻精度Resistance ≤0.3%
6.显现读数display液晶显现：电阻、电阻率、方阻、温度、单元换算、温度系数、电流、电压、探针外形、探针间距、厚度 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity 7.测试体例test mode通俗单电丈量general single electrical measurement
8.任务电源power输出: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W 
9.偏差errors≤4%（规范样片成果 Standard Sample results）
10.选购功效choose to buy选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.规范电阻
1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform.
11.测试探头Test probe探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.
Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.